華測高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動(dòng)生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購。

   雙電測數字式四探針測試儀是運用直線(xiàn)或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數據進(jìn)行雙電測分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線(xiàn)或方形四探針相比，大大提，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。

    采用開(kāi)發(fā)電子護系統，設備的性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用的SPWM電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗數據的有效性。

   系統搭配Labview系統開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。

   高度的輸出與測量規格，保障檢測結果的，適用于新材料數據的檢測。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的測試。

   針對高溫四探針測試儀做了多項設計，測試過(guò)程中有過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測試過(guò)程的；資料保存機制：當遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數所新開(kāi)啟動(dòng)后可恢復原有試驗數據。