半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統

半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統產(chǎn)品介紹：

高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測試技術(shù)用于預測EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強度和高溫環(huán)境下。在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著(zhù)溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明，隨著(zhù)溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個(gè)關(guān)鍵測量手段。關(guān)于環(huán)氧塑封料（EMC， Epoxy Molding Compound）高低溫測試技術(shù)，已證明此測試方式是有效的，同時(shí)加速?lài)a(chǎn)化IGBT、MOSFET等功率器件的研發(fā)。如無(wú)錫凱華、中科科化、飛凱材料等企業(yè)。

設備優(yōu)勢：

1、消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響

在超高阻、弱信號測量過(guò)程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會(huì )引起測量誤差。同時(shí)電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設備，將對電網(wǎng)造成諧波干擾。以致影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及用新測試分析技術(shù),實(shí)現了高達1fA(10-15 A)的測量分辨率,從而滿(mǎn)足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求。

2、消除不規則輸入的自動(dòng)平均值功能 強數據處理及內部屏蔽

自動(dòng)平均值是檢測電流的變化，并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能， 在查看測量結果的同時(shí)不需要改變設置。通過(guò)自動(dòng)排除充電電流的過(guò)渡響應時(shí)或接觸不穩定導致偏差較大。電流輸入端口全新采用大口徑三軸連接器，是將內部屏蔽連接至GUARD(COM)線(xiàn)，外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設計。兼顧抗干擾的穩定性和高壓檢查時(shí)的安全性。

3、采用測量前等待的方式，讓材料受熱均勻

當溫度達到設定溫度后，樣品的均勻受熱會(huì )有一定的滯后現象，采用達到設備溫度保持時(shí)間，采用測量前等待的方式?？梢宰尣牧鲜軣岣鶆?，測量更加科學(xué)合理。

4、強大的操作軟件

測試系統的軟件平臺 Huacepro ，基于labview系統開(kāi)發(fā)，符合功能材料的各項測試需求，具備強大的穩定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復。支持最新的國際標準，兼容XP、win7、win10系統。

產(chǎn)品參數：

設備型號：SIR-450

溫度范圍：-185 ~ 350 °C

控溫精度：0.5 °C

升溫斜率：10°C/min（可設定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³ Ω ~ 1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅或銀;

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數據傳輸：RS-232

設備尺寸：180 x 210 x 50mm