MLCC電容器溫度特性測試系統  

（電容器溫度特性評估系統）

電化學(xué)遷移評價(jià)系統

電化學(xué)遷移評估系統可以輕松有效地評估產(chǎn)品壽命和絕緣電阻，從低壓測試到高壓測試都有許多應用。

l 評價(jià)目標

l 印刷電路板

l 絕緣材料

l 半導體材料

容器泄漏測試系統

電容器泄漏測試系統自動(dòng)評估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。

l 評價(jià)目標

l 電容器

Platinous J 系列恒溫試驗箱

作為行業(yè)標準試驗箱的一條線(xiàn)，Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗箱的新環(huán)境標準。

型號

范圍 迷你零下Compact 超低溫室

Mini Subzero 支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫范圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌室還提供遠程監測和操作。

內部容積 (L)

特征

該系統可用于評估特定溫度環(huán)境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

☆ 最多64個(gè)通道的自動(dòng)測量

該系統可以測量不同溫度環(huán)境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

您可以選擇8個(gè)通道的倍數，最多64個(gè)通道。

☆ 圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過(guò)各種圖形函數進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。

☆ 可從不同測試模式選擇

溫度特性評價(jià)試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。

<溫度特性評估測試>

在此測試模式下，自動(dòng)記錄特性數據，并與溫度變化同步，最多40步。

<持續運行測試>

該測試模式測量以下參數的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數據。

<頻率特性評價(jià)試驗>

該試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數據。測試可與溫度特性評價(jià)測試或恒定運行測試相結合。

☆ 多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本（可選）

除了 SMD 組件的專(zhuān)用夾具外，我們還提供了根據離散設備形狀定制的夾具。

應用程序

l 電容器

l 靜電容量 (C)

l 損失因子 (D)

l 阻抗的溫度特性 (Z)

l 頻率特征

l 電子材料

l 印刷電路板

l 通量

l 絕緣材料（樹(shù)脂、薄膜等）

l 介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）

①系統控制器

用于登記系統管理的計算機和監視器測試條件，檢查工作 狀態(tài)，并進(jìn)行數據處理。

②不間斷電源

系統控制器的備用電源。

③ RS-232C

操作員控制并監測來(lái)自系統控制器的環(huán)境測試系統。

④ 掃描裝置

該裝置測量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測量電纜前沿的標準8通道的阻抗 (Z)。

您可以將每臺器械的通道數增加到64個(gè)，增量為8個(gè)通道。

⑤ 測量電纜

由聚四氟乙烯制成的同軸電纜連接到樣品或試驗系統內部夾具。

⑥ 繼電器單元

該裝置將測量電纜連接到樣本上或測試系統內部夾具至掃描儀裝置。繼電器單元使連接變得容易。

⑦ 樣品連接夾具（可選）

用于連接 SMD 組件或離散設備的卡扣式夾具。

⑧ LCR儀表

該儀表測量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

⑨ 絕緣電阻測試儀（選配）

該測試人員測量絕緣電阻。您可以將每臺器械的通道數增加到64個(gè)，增量為8個(gè)通道。

⑩RS-485（可選）

從環(huán)境測試系統選項菜單，RS-485可將通信選作系統控制器和環(huán)境測試系統的通信協(xié)議。

MLCC電容器溫度特性測試系統