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  • MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀
    MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號:

    瀏覽量:2435

    華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀,為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。主要應用于應用領(lǐng)域:復合絕緣擦亮 、高分子絕緣材料 、無(wú)機絕緣材料 、有機絕緣材料 、其它絕緣材料等 。
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  • HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀
    HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀

    更新時(shí)間:2024-12-12

    型號:HCWP-1000型

    瀏覽量:1985

    MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀,運用三電極法設計原理測量。重復性與穩定性好,采用雙屏蔽高頻測試線(xiàn)纜,提高測試參數的準確度,同時(shí)抗擾能力強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀
    Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀

    更新時(shí)間:2024-12-12

    型號:Huace450P

    瀏覽量:2227

    北京華測高低溫介電溫譜儀,設備測試頻率可達120MHz,采用直接聯(lián)接阻抗分析儀以減少測試導線(xiàn)的影響,同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量?jì)x表的干擾。
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  • HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷
    HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號:HCWP-1000

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    MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷,專(zhuān)用儀器是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。從專(zhuān)業(yè)角度來(lái)說(shuō),其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試,系統包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體.
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  • HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統
    HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號:HCJD

    瀏覽量:2935

    華測高低溫介電溫譜測試儀系統運用三電極法設計原理測量。重復性與穩定性好,采用雙屏蔽高頻測試線(xiàn)纜,提高測試參數的準確度,同時(shí)抗擾能力強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀
    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號:

    瀏覽量:1774

    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導體塊狀,為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統軟件四個(gè)組成部分。
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  • 介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專(zhuān)業(yè)夾具
    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專(zhuān)業(yè)夾具

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號:

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    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專(zhuān)業(yè)夾具,主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試,系統包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數,介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機電耦合系數等,同時(shí)可分析被測樣品隨溫度,頻率,時(shí)間變化的曲線(xiàn),測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購。
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  • 高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線(xiàn)
    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線(xiàn)

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號:

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    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線(xiàn),公司開(kāi)發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺,高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設備無(wú)縫連接,實(shí)現了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。
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