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  • 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測試系統
    高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測試系統

    更新時(shí)間：2024-12-30

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    高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測試系統可實(shí)現從低頻到高頻信號的輸出與測量，系統由工控機發(fā)出指令，單片機控制FPGA發(fā)出測量波形，FPGA一路信號控制不同頻率幅值的信號由高壓放大器進(jìn)行電壓放大后，施加在樣品上，另一路施加在鎖相放大器作為參考信號，不同頻率幅值的高壓信號加載樣樣品上，樣品測量的信號測量后，再回傳FPGA測試板卡。測量的數據再由單片機回傳工控機進(jìn)行數據處理。
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